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JEOL 表面分析技術(shù)

更新時(shí)間:2026-01-30點(diǎn)擊次數(shù):77

面分析是用于揭示材料表面數(shù)納米至數(shù)微米深度范圍內(nèi)的元素組成、化學(xué)狀態(tài)及微觀結(jié)構(gòu)的分析技術(shù)。該技術(shù)能夠從原子尺度認(rèn)識(shí)和說(shuō)明材料表面的物理化學(xué)變化及其與表面有關(guān)的宏觀性質(zhì)的聯(lián)系。 腐蝕、磨損、黏附及其他影響材料性能和可靠性的反應(yīng)主要發(fā)生于材料表層,因此表面分析在材料評(píng)估、質(zhì)量控制和失效分析中具有關(guān)鍵作用。 表面分析技術(shù)有數(shù)十種,而且新的分析方法仍在不斷出現(xiàn),在實(shí)際分析過(guò)程中,需綜合考慮樣品的具體位置、尺寸、材質(zhì)狀態(tài)以及分析目的,選取最適宜的分析方法。

 

 表面分析儀器的類型和特征                                                                        

 表面分析儀器是一個(gè)龐大的家族,其核心目標(biāo)是獲取材料最外層(通常是幾個(gè)原子層到幾納米深度)的化學(xué)成分、元素分布、化學(xué)態(tài)、電子結(jié)構(gòu)和形貌信息。它們的工作原理各不相同,但都基于一個(gè)共同的前提:用某種激發(fā)源(探針)激發(fā)樣品表面,然后分析從表面發(fā)射出來(lái)的“信號(hào)"。

 

 

 我們可以用一個(gè)統(tǒng)一的框架來(lái)理解它們,并根據(jù)“探針"和“信號(hào)"的不同進(jìn)行分類。

 下表列舉了幾種典型的表面分析方法,從激發(fā)源、檢測(cè)信號(hào)、定量能力、化學(xué)態(tài)分析可能性、靈敏度、絕緣樣品處理方式及縱深分析能力等方面進(jìn)行了對(duì)比。

 

 分析方法 EPMA (WDS)/SXES/EDS AES XPS XRF SIMS
 激發(fā)源 電子束 電子束 X-ray X-ray 離子
 信號(hào) 特征 X-ray 俄歇電子 光電子 熒光 X-ray 二次離子
 可檢測(cè)的元素

 Be ~ (WDS, EDS)

Li (SXES, 無(wú)窗 EDS)

 Li ~ Li ~ C ~ H~
 定量分析 ○ ○ ○ ○ X
 化學(xué)狀態(tài) △ ○ ○ X 有機(jī)化合物
 檢測(cè)深度 幾µm 幾nm 幾nm 幾nm 幾nm
 靈敏度

 幾十ppm(質(zhì)量濃度)

 幾千ppm (原子濃度)

 幾千ppm(原子濃度)

 幾十 ppm(質(zhì)量濃度)

 幾ppm(原子濃度)

 絕緣體 ○ (導(dǎo)電噴鍍)  △ ○ ○ ○
 深度分析  △ ○ ○ X ○
 優(yōu)勢(shì) 定性分析 、定量分析 、廣域~ 微區(qū)分析 微區(qū)分析 、化學(xué)態(tài)分析、 深度剖析 絕緣體分析、 化學(xué)態(tài)分析、 深度剖析 定性分析、 薄膜分析、 痕量元素分析 有機(jī)物分析、 痕量元素分析
 挑戰(zhàn) 化學(xué)態(tài)分析(強(qiáng)項(xiàng)SXES), 有機(jī)物分析 廣域分析、 絕緣體分析、 有機(jī)物分析 微區(qū)分析、 痕量元素分析 微區(qū)分析 定性分析、 定量分析