產(chǎn)品中心
Product Center
熱門(mén)搜索：
JNM-ECZR 系列核磁共振譜儀
軟X射線分析譜儀
JSM-IT700HR日本電子掃描電鏡
ROHS金屬成分分析儀
液氮液氦回收系統(tǒng)
IB-19530CP日本電子JEOL截面拋光儀制樣設(shè)備
JCM-7000 NeoScope™JEOL臺(tái)式掃描電子顯微鏡
JSM-IT510日本電子SEM
JCM-7000 NeoScope™日本電子臺(tái)式掃描電鏡
JXA-iHP200F 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀
SEM掃描電鏡
掃描電鏡價(jià)格
EM-09100IS離子切片儀
IB-19530CP截面樣品制備裝置
JNM-ECZL 系列 核磁共振譜儀
JSX-1000S 能量色散型X射線熒光分析儀
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心制樣設(shè)備EM-09100IS離子切片儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
EM-09100IS 離子切片儀用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡(jiǎn)單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過(guò)遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對(duì)樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好，對(duì)不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池,綜合 |
EM-09100IS離子切片儀用于TEM、STEM、SEM、EPMA和AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法：制備薄膜樣品除了需要將樣品切成矩形薄片外，不需要溶劑或化學(xué)試劑及前處理（打磨或凹坑研磨），比傳統(tǒng)制備工具快速、簡(jiǎn)單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過(guò)遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對(duì)樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好，對(duì)不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
EM-09100IS離子切片儀的主要特點(diǎn):高質(zhì)量的透射電鏡樣品的前處理快速制備無(wú)需復(fù)雜的前處理。
1.度的表面損傷。
2.高質(zhì)量的透射電鏡樣品的前處理。
3.快速制備。
4.無(wú)需復(fù)雜的前處理。
5.最小限度的表面損傷。
上一個(gè)：
返回列表
