◇ JEM-ACE200F 高效分析型電子顯微鏡裝置主體

● 可配置Cs校正器和CFEG

● 高速高精度的stage    與現(xiàn)有的馬達驅動控制相比速度上提高了3倍、具備與Piezo驅動控制同等效力的微動控制能力。

◇JEM-ACE200F 高效分析型電子顯微鏡 操作簡單

● 即使TEM的操作經(jīng)驗少也能直接操作設備

   · 大量減少使用操作盤，直接按順序點擊顯示畫面上的按鈕就能得到最終的圖像

   · 也可以用鼠標來進行調(diào)焦等操作

   · 可以兼容GATAN CCD

● 自動調(diào)整功能

   · 自動聚焦、自動調(diào)整樣品高度、自動電子束傳遞、自動定位等

◇ 自動獲取數(shù)據(jù)的功能 

●按照操作菜單可自動獲取數(shù)據(jù)

   · TEM像、STEM像、元素面分布

   · 可以對應柵格上的多個樣品

◇ 和測長軟件鏈接

● 在TEM上設定倍率可以對其他倍率進行校正

    · 可以對多臺JEM-ACE200F取得的數(shù)據(jù)自動測長

◇ 遠程操作

● 可在隔壁房間操作設備

● 遠程操作及多地同時觀察（依賴于網(wǎng)絡環(huán)境）

   · 可與多個事務所一邊討論一邊觀察  

◇ 封閉鏡筒，使環(huán)境耐受性提高

● 噪音、氣流、室溫變化得到了抑制

● 內(nèi)壁裝有吸音材料，可進一步防噪音

◇ 從分析儀器到分析工具

－STEM/TEM分析自動化、改進操作流程、品質管理穩(wěn)定提高－