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推薦產(chǎn)品
  • 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
    場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

    JSM-IT810場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 JSM-IT810系列FE-SEM結(jié)合多功能性和高空間分辨率，實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化操作。內(nèi)置無(wú)需編碼的成像和EDS分析自動(dòng)化功能，使工作流程更加流暢高效。 此外...

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  • 日本電子IT210 掃描電鏡
    日本電子IT210 掃描電鏡

    JSM-IT210 掃描電鏡是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。5軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)使得操作更安心和快速；而且因?yàn)檠b有“Simple SEM”，只需選好微區(qū)就能自動(dòng)觀(guān)察和分析。JSM-IT210 掃...

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  • 日本電子SEM
    日本電子SEM

    JSM-IT510 InTouchScope™ 日本電子SEM不僅是開(kāi)展科研工作所不可少的工具，對(duì)于需要品控的制造工廠(chǎng)也是*。 在這些場(chǎng)景中，用戶(hù)需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀(guān)察操作，因此快速完成這...

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  • 掃描電鏡價(jià)格
    掃描電鏡價(jià)格

    JSM-IT210 InTouchScope™ 掃描電鏡價(jià)格不僅是開(kāi)展科研工作所不可少的工具，對(duì)于需要品控的制造工廠(chǎng)也是*。 在這些場(chǎng)景中，用戶(hù)需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀(guān)察操作，因此快速完成這些...

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  • JSX-1000S 能量色散型X射線(xiàn)熒光分析儀
    JSX-1000S 能量色散型X射線(xiàn)熒光分析儀

    JSX-1000S 能量色散型X射線(xiàn)熒光分析儀采用觸控屏操作、提供更加簡(jiǎn)便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（FP法?檢量線(xiàn)法）、RoHS元素篩選功能等?！?利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更...

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  • 雙束加工觀(guān)察系統(tǒng)
    雙束加工觀(guān)察系統(tǒng)

    隨著先進(jìn)材料構(gòu)造的微細(xì)化和制造過(guò)程的復(fù)雜化，形貌觀(guān)察、元素分析和晶體分析等的評(píng)估技術(shù)也對(duì)分辨率和精度有了更高的要求。為了滿(mǎn)足這些需求，JEOL推出新一代雙束加工觀(guān)察系統(tǒng)JIB-4700F。

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  • JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀(guān)察系統(tǒng)
    JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀(guān)察系統(tǒng)

    JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀(guān)察系統(tǒng)配置了高性能的離子鏡筒(單束FIB裝置)。 被加速的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，能對(duì)樣品表面進(jìn)行SIM觀(guān)察 、研磨、及碳和鎢等沉積。還可以為T(mén)EM制備薄膜...

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  • JXA-iHP200F 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀
    JXA-iHP200F 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀

    JXA-iHP200F 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí)，追求每個(gè)人都能簡(jiǎn)單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀(guān)察分析和操作，是更先進(jìn)的一體化集成FE-EPMA。

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  • CP截面樣品制備裝置
    CP截面樣品制備裝置

    IB-19520CCP截面樣品制備裝置在加工過(guò)程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對(duì)樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長(zhǎng)、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且可以拆卸。...

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  • IB-19530CP截面樣品制備裝置
    IB-19530CP截面樣品制備裝置

    IB-19530CP截面樣品制備裝置為了滿(mǎn)足市場(chǎng)多樣化的需求，IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺(tái)，通過(guò)交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。

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  • 離子切片儀
    離子切片儀

    EM-09100IS 離子切片儀用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡(jiǎn)單。低能量、低角度（0°到6&...

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產(chǎn)品展示
  • 日本電子ROHSX射線(xiàn)熒光分析儀金屬成分分析
    日本電子ROHSX射線(xiàn)熒光分析儀金屬成分分析

    日本電子ROHSX射線(xiàn)熒光分析儀金屬成分分析(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過(guò)組合新開(kāi)發(fā)的衍射光柵和高靈敏度Ｘ射線(xiàn)CCD相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 ...

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  • JEOL 日本電子掃描電鏡鎢燈絲MA113008
    JEOL 日本電子掃描電鏡鎢燈絲MA113008

    JEOL日本電子鎢燈絲MA113008 可用于多種日本電子燈絲耗材更換

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  • 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
    場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

    JSM-IT810場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 JSM-IT810系列FE-SEM結(jié)合多功能性和高空間分辨率，實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化操作。內(nèi)置無(wú)需編碼的成像和EDS分析自動(dòng)化功能，使工作流程更加流暢高效。 此外...

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  • 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
    熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

    JSM-IT710HR 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 清晰的可見(jiàn)性促進(jìn)新發(fā)現(xiàn)！目前，除了納米級(jí)的分辨率和分析性能外，數(shù)據(jù)采集的處理能力也被認(rèn)為是重要的。JSM-IT710HR是JEOL 以 “任何人都能輕...

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  • 日本電子IT210 掃描電鏡
    日本電子IT210 掃描電鏡

    JSM-IT210 掃描電鏡是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。5軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)使得操作更安心和快速；而且因?yàn)檠b有“Simple SEM”，只需選好微區(qū)就能自動(dòng)觀(guān)察和分析。JSM-IT210 掃...

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  • ROHS金屬成分分析儀
    ROHS金屬成分分析儀

    ROHS金屬成分分析儀(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過(guò)組合新開(kāi)發(fā)的衍射光柵和高靈敏度Ｘ射線(xiàn)CCD相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 和EDS一樣可以并行檢...

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質(zhì)量保障 價(jià)格實(shí)惠 服務(wù)完善

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蘇州賽非特電子有限公司
關(guān)于賽非特賽非特公司主要是一家專(zhuān)門(mén)從事進(jìn)口儀器設(shè)備銷(xiāo)售公司。主要服務(wù)于華東，華中，華南地區(qū)形成了一個(gè)覆蓋中國(guó)沿海地區(qū)，并延伸至內(nèi)地的銷(xiāo)售網(wǎng)絡(luò)。我們服務(wù)項(xiàng)目包含儀器銷(xiāo)售，維修，安裝，儀器校準(zhǔn)，保養(yǎng)等，是一加集進(jìn)口，銷(xiāo)售，安裝，服務(wù)一體的進(jìn)口儀器銷(xiāo)售公司，公司秉承“技術(shù)至上，服務(wù)進(jìn)取”的經(jīng)營(yíng)理念，堅(jiān)持“客戶(hù)第一”的原則為廣大客戶(hù)提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。歡迎廣大客戶(hù)惠顧！賽非特公司主要合作品牌有：賽默飛世爾THERMOFISHER,安捷倫AGILENT,島津SHIMADZU,日本電子JEOL,牛津儀器Oxford,日本尼康NIKON等品牌產(chǎn)品。主要銷(xiāo)售產(chǎn)品為各式液相色譜，氣相色譜，光譜儀，質(zhì)譜儀，光學(xué)顯微鏡，掃描電鏡，X光檢查機(jī)，x光熒光分析儀等相關(guān)儀器。賽非特客戶(hù)群為電子行業(yè)，鋼鐵行業(yè)，礦產(chǎn)，生物，醫(yī)療，材料等各種領(lǐng)域。為客戶(hù)提供優(yōu)良的解決方案及優(yōu)秀的服務(wù)，用自身技術(shù)協(xié)助解決用戶(hù)的現(xiàn)實(shí)問(wèn)題。歡迎廣大客戶(hù)來(lái)電指導(dǎo)，共同學(xué)習(xí)探討。
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技術(shù)文章
  • 掃描電子顯微鏡（SEM）通過(guò)高能電子束與樣品表面的相互作用，實(shí)現(xiàn)納米級(jí)分辨率的微觀(guān)形貌與成分分析。其核心工作原理基于電子-物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的信號(hào)采集與同步成像，技術(shù)架構(gòu)涵蓋四大核心系統(tǒng)。一、工作原理：電子束掃描與信號(hào)同步成像電子束生成與聚焦電子槍?zhuān)ㄈ鐖?chǎng)發(fā)射或鎢燈絲）發(fā)射電子束，經(jīng)加速電壓（0.02-30kV）加速后，通過(guò)電磁透鏡聚焦成納米級(jí)光斑。例如，蔡司GeminiSEM500的分辨率可達(dá)0.6nm@15kV，束斑直徑僅1.1nm@1kV。樣品表面掃描與信號(hào)激發(fā)掃描線(xiàn)圈驅(qū)動(dòng)...
    2026-1-30
  • 面分析是用于揭示材料表面數(shù)納米至數(shù)微米深度范圍內(nèi)的元素組成、化學(xué)狀態(tài)及微觀(guān)結(jié)構(gòu)的分析技術(shù)。該技術(shù)能夠從原子尺度認(rèn)識(shí)和說(shuō)明材料表面的物理化學(xué)變化及其與表面有關(guān)的宏觀(guān)性質(zhì)的聯(lián)系。腐蝕、磨損、黏附及其他影響材料性能和可靠性的反應(yīng)主要發(fā)生于材料表層，因此表面分析在材料評(píng)估、質(zhì)量控制和失效分析中具有關(guān)鍵作用。表面分析技術(shù)有數(shù)十種，而且新的分析方法仍在不斷出現(xiàn)，在實(shí)際分析過(guò)程中，需綜合考慮樣品的具體位置、尺寸、材質(zhì)狀態(tài)以及分析目的，選取最適宜的分析方法。表面分析儀器的類(lèi)型和特征表面分析儀...
    2026-1-30
  • 掃描電鏡的能譜儀（EDS）是一種基于電子束與樣品相互作用實(shí)現(xiàn)元素成分分析的重要工具，其原理與應(yīng)用可歸納如下：原理EDS的核心原理是利用電子束轟擊樣品表面，激發(fā)樣品原子內(nèi)層電子躍遷，產(chǎn)生特征X射線(xiàn)。不同元素的原子核外電子能級(jí)結(jié)構(gòu)不同，躍遷時(shí)釋放的X射線(xiàn)能量具有性（即特征能量），通過(guò)檢測(cè)這些X射線(xiàn)的能量分布，可實(shí)現(xiàn)元素定性分析；而X射線(xiàn)的強(qiáng)度與元素含量相關(guān)，結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)樣品校正后，可進(jìn)一步完成半定量分析。具體過(guò)程為：X射線(xiàn)光子進(jìn)入檢測(cè)器后，在硅（Si）晶體中激發(fā)電子-空穴對(duì)，其數(shù)量與...
    2025-12-2
  • 掃描電子顯微鏡是現(xiàn)代科學(xué)研究中重要的高精度分析儀器，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)和納米技術(shù)等領(lǐng)域。其高分辨率和強(qiáng)大的微觀(guān)結(jié)構(gòu)分析能力為科研人員提供了重要的技術(shù)支持。然而，為了確保設(shè)備的穩(wěn)定性和成像質(zhì)量，日常維護(hù)和正確的操作技巧至關(guān)重要。以下是一些延長(zhǎng)設(shè)備壽命并提升成像質(zhì)量的實(shí)用指南。一、日常維護(hù)的重要性?huà)呙桦娮语@微鏡是一種復(fù)雜的高真空設(shè)備，其內(nèi)部包含許多精密的電子元件和光學(xué)部件。日常維護(hù)不僅可以延長(zhǎng)設(shè)備的使用壽命，還能確保成像質(zhì)量的穩(wěn)定性和可靠性。首先，保持實(shí)驗(yàn)室環(huán)境的...
    2025-11-21
  • 離子切片儀（聚焦離子束系統(tǒng)，F(xiàn)IB）作為納米級(jí)材料表征與加工的核心設(shè)備，通過(guò)高能離子束實(shí)現(xiàn)材料的精準(zhǔn)切割與三維重構(gòu)，在材料科學(xué)、電子器件及納米技術(shù)領(lǐng)域發(fā)揮關(guān)鍵作用。工作原理：離子切片儀的核心是利用離子槍發(fā)射高能離子束（如鎵離子），經(jīng)聚焦透鏡和掃描電極形成極細(xì)束流（直徑可至納米級(jí)），通過(guò)物理撞擊和化學(xué)反應(yīng)逐層剝離材料表面原子，形成厚度僅幾納米至幾十納米的超薄切片。其能量密度與掃描速度的精確控制，確保切割效率與精度的平衡。例如，在8keV能量下，硅材料減薄速度可達(dá)40微米/小時(shí)，...
    2025-11-5
  • 鎢燈絲掃描電子顯微鏡（TungstenFilamentScanningElectronMicroscope，簡(jiǎn)稱(chēng)SEM）憑借其獨(dú)特的原理和顯著的優(yōu)勢(shì)，始終扮演著重要的角色。它以一種近乎“古老”卻極為可靠的方式，為我們呈現(xiàn)了一個(gè)個(gè)微觀(guān)世界的精彩畫(huà)面。一、原理：電子束的奇妙之旅鎢燈絲掃描電子顯微鏡的原理可以概括為：通過(guò)電子束對(duì)樣品表面的逐點(diǎn)掃描，激發(fā)樣品產(chǎn)生信號(hào)，再將這些信號(hào)轉(zhuǎn)化為圖像。其核心部件是一根被加熱到高溫度的鎢燈絲。當(dāng)電流通過(guò)鎢燈絲時(shí)，鎢原子被激發(fā)，電子從燈絲表面逸出，...
    2025-10-22
  • 一、電子光學(xué)系統(tǒng)：聚焦與掃描的核心電子光學(xué)系統(tǒng)是掃描電鏡（SEM）的核心組成部分，負(fù)責(zé)產(chǎn)生、加速、聚焦及控制電子束在樣品表面的掃描。其核心部件包括：電子槍?zhuān)鹤鳛殡娮釉矗ㄟ^(guò)熱發(fā)射或場(chǎng)發(fā)射產(chǎn)生自由電子。熱發(fā)射電子槍?zhuān)ㄈ珂u燈絲）成本低但分辨率受限；場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)ㄈ缌鸹|或冷場(chǎng)發(fā)射）亮度高、束斑小，分辨率可達(dá)1nm以下，適用于高精度成像。電磁透鏡：通過(guò)電磁場(chǎng)對(duì)電子束進(jìn)行聚焦和加速。兩級(jí)電磁透鏡將電子束會(huì)聚成直徑幾納米的束斑，確保高分辨率成像。掃描線(xiàn)圈：控制電子束在樣品表面進(jìn)行光柵...
    2025-10-11
  • 掃描電鏡（SEM）作為現(xiàn)代材料分析的重要工具，其技術(shù)深度和應(yīng)用廣度令人矚目。從基本原理出發(fā)，SEM利用聚焦的電子束在樣品表面進(jìn)行光柵狀掃描，通過(guò)檢測(cè)電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等信號(hào)，來(lái)觀(guān)察和分析樣品表面的形貌、結(jié)構(gòu)和成分。在原理層面，SEM通過(guò)電子槍發(fā)射的電子束，在加速電壓的作用下，經(jīng)過(guò)電磁透鏡聚焦后，以極細(xì)的束斑在樣品表面進(jìn)行掃描。這一過(guò)程中，電子束與樣品表面相互作用，激發(fā)出各種物理信號(hào)，其中二次電子對(duì)樣品表面形貌極為敏感，是SEM成像的主要信號(hào)來(lái)源。背散...
    2025-9-25
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